Πολωτικό μικροσκόπιο διοφθάλμιο BA310 POL

Το BA310POL έχει σχεδιαστεί για την εξέταση διπλών δειγμάτων από πετρογραφία και ορυκτολογία και μπορεί επίσης να χρησιμοποιηθεί για τη βιομηχανία συνθετικών υλικών όπου μπορούν να γίνονται επαναλαμβανόμενες παρατηρήσεις με αποτελεσματικότητα και αξιοπιστία. Το BA310POL λειτουργεί επίσης ιδιαίτερα καλά στις εκπαιδευτικές εφαρμογές των υλικών επαγγελμάτων, όπου οι προσιτές τιμές και η ευκολία χρήσης είναι βασικές απαιτήσεις

Για την κάλυψη των αυξανόμενων απαιτήσεων για ένα αφοσιωμένο, επαγγελματικό πολωτικό μικροσκόπιο, το BA310Pol διαθέτει οπτικό σύστημα CCIS χωρίς τάση, το οποίο είναι χτισμένο γύρω από ένα εύρωστο πλαίσιο με επικεντρωμένους στόχους

• Κωνοειδής κεφαλής τύπου Siedentopf, με κλίση 30º
• Ευρυγώνιοι προσοφθάλμιοι φακοί N-WF PL10X / 20mm με ρύθμιση διόπτρας τόσο στους προσοφθάλμιους φακούς όσο και στα μάτια των ελαστικών
• Ένα προσοφθάλμιο με διασταυρούμενο σκελετό και στροφέα τοποθέτησης
• Ενδιάμεσος σωλήνας με περιστρεφόμενο αναλυτή 360º και φακό Bertrand
• Kενη πλάκα εισαγωγής
• Αναστρεφόμενος τετραπλός περιστρεφόμενος αντικειμενικός φακός, με ενιαία θέση κεντρική
• CCIS® Plan achromatic Αντικειμενικοί φακοί EC PL P 4Χ, 10Χ, 40Χ S, 60Χ S
• Σύστημα ομοαξονικού χονδροειδούς και λεπτού εστίασης με ρύθμιση κίνησης
• 360 ° κυκλικό περιστρεφόμενο στάδιο
• Αχρωματικός συμπυκνωτής Ν.Α. 0,90 / 0,13 (χωρίς στέλεχος) με διάφραγμα ίριδας
• Περιστρεφόμενος πολωτής, στερεωμένος στον φορέα συμπυκνωτή
• Koehler σύστημα φωτισμου με χαλαζία αλογόνου 6V / 30W με έλεγχο έντασης
• Τροφοδοσία 100V-240V (CE)
• Μπλε φίλτρο 45 mm, καλώδιο τροφοδοσίας, εξαγωνικό κλειδί Allen, κάλυμμα σκόνης